簡(jiǎn)要描述:SuperView W3三維白光干涉形貌儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器,可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的平整度、粗糙度、微觀幾何輪廓、曲率等。
詳細(xì)介紹
品牌 | CHOTEST/中圖儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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外形尺寸 | (1000x900x1500)mmmm | 重量 | <500kgkg |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,電子,航天,汽車(chē),綜合 | 標(biāo)準(zhǔn)視場(chǎng) | 0.98x0.98mm |
Z向掃描范圍 | 10mm | Z向分辨率 | 0.1nm |
可測(cè)樣品反射率 | 0.05%~100% | 粗糙度RMS重復(fù)性 | 0.005nm |
現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中,表面三維微觀形貌的測(cè)量能更真實(shí)地反映零件表面的特征以及衡量表面的質(zhì)量。SuperView W3三維白光干涉形貌儀是利用白光干涉掃描技術(shù)為基礎(chǔ),用于樣品表面微觀形貌檢測(cè)的精密儀器。可以達(dá)到納米級(jí)的檢測(cè)精度,并快速獲得被測(cè)工件表面三維形貌和數(shù)據(jù)。
產(chǎn)品參數(shù)
產(chǎn)品型號(hào):SuperView W3
產(chǎn)品名稱:白光干涉儀
原理:非接觸、三維白光掃描干涉儀
掃描裝置:長(zhǎng)范圍,Z軸納米光柵控制
物鏡:Nikon,10×無(wú)限遠(yuǎn)共軛干涉物鏡
物鏡座:5孔電動(dòng)物鏡塔臺(tái)(標(biāo)準(zhǔn))
測(cè)量陣列:1024*1024,工業(yè)級(jí)相機(jī)
Z軸:100mm行程,納米位移閉環(huán)反饋
安全性:系統(tǒng)集成緊急制動(dòng)功能
樣品臺(tái):0.1nm電動(dòng),俯仰傾斜±6°,電動(dòng)調(diào)節(jié),XY行程300*300,尺寸450*450mm,亞微米閉環(huán)反饋
技術(shù)指標(biāo)
產(chǎn)品配置
產(chǎn)品功能
1)具備各種類型樣品表面微觀形貌的3D輪廓重建與測(cè)量功能;
2)具備表面粗糙度和微觀輪廓的檢測(cè)功能,粗糙度范圍涵蓋0.1nm到數(shù)十微米的級(jí)別;
3)具備校平、去除形狀、去噪、濾波等數(shù)據(jù)處理功能;
4)具備粗糙度分析、輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、功能分析等表面參數(shù)分析功能;
5)具備自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)測(cè)量、自動(dòng)多區(qū)域測(cè)量、自動(dòng)拼接測(cè)量等自動(dòng)化功能;
6)具備一鍵分析、多文件分析等快速、批量分析功能;
7)具備word、excel等數(shù)據(jù)報(bào)表導(dǎo)出功能。
半導(dǎo)體領(lǐng)域?qū)m?xiàng)功能
* 同步支持6、8、12英寸三種規(guī)格的晶圓片測(cè)量,并可一鍵實(shí)現(xiàn)三種規(guī)格的真空吸盤(pán)的自動(dòng)切換以適配不同尺寸晶圓;
* 具備研磨工藝后減薄片的粗糙度自動(dòng)測(cè)量功能,能夠一鍵測(cè)量數(shù)十個(gè)小區(qū)域的粗糙度求取均值;
* 具備劃片工藝中激光鐳射開(kāi)槽后的槽道深寬輪廓數(shù)據(jù)測(cè)量功能,能夠一鍵實(shí)現(xiàn)槽道深寬相關(guān)的面和多條剖面線的數(shù)據(jù)測(cè)量與分析;
* 具備晶圓制造工藝中鍍膜臺(tái)階高度的測(cè)量,覆蓋從1nm~1mm的測(cè)量范圍,實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。
產(chǎn)品性能特征
1、高精度、高重復(fù)性
1)采用光學(xué)干涉技術(shù)、精密Z向掃描模塊和優(yōu)異的3D重建算法組成測(cè)量系統(tǒng),保證測(cè)量精度高;
2)隔振系統(tǒng)能夠有效隔離頻率2Hz以上絕大部分振動(dòng),消除地面振動(dòng)噪聲和空氣中聲波振動(dòng)噪聲,保障儀器在大部分的生產(chǎn)車(chē)間環(huán)境中能穩(wěn)定使用,獲得高測(cè)量重復(fù)性。
2、一體化操作的測(cè)量分析軟件
1)測(cè)量與分析同界面操作,無(wú)須切換,測(cè)量數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì),實(shí)現(xiàn)了快速批量測(cè)量的功能;
2)可視化窗口,便于用戶實(shí)時(shí)觀察掃描過(guò)程;
3)結(jié)合自定義分析模板的自動(dòng)化測(cè)量功能,可自動(dòng)完成多區(qū)域的測(cè)量與分析過(guò)程;
4)幾何分析、粗糙度分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析五大功能模塊齊全;
5)一鍵分析、多文件分析,自由組合分析項(xiàng)保存為分析模板,批量樣品一鍵分析,并提供數(shù)據(jù)分析與統(tǒng)計(jì)圖表功能;
6)可測(cè)依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT等標(biāo)準(zhǔn)的多達(dá)300余種2D、3D參數(shù)。
3、精密操縱手柄
集成X、Y、Z三個(gè)方向位移調(diào)整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺(tái)平移、Z向聚焦、找條紋等測(cè)量前工作。
4、雙重防撞保護(hù)措施
除初級(jí)的軟件ZSTOP設(shè)置Z向位移下限位進(jìn)行防撞保護(hù)外,另在Z軸上設(shè)計(jì)有機(jī)械電子傳感器,當(dāng)鏡頭觸碰到樣品表面時(shí),儀器自動(dòng)進(jìn)入緊急停止?fàn)顟B(tài),保護(hù)儀器,降低人為操作風(fēng)險(xiǎn)。
5、雙通道氣浮隔振系統(tǒng)
既可以接入客戶現(xiàn)場(chǎng)的穩(wěn)定氣源也可以接入標(biāo)配靜音空壓機(jī),在無(wú)外接氣源的條件下也可穩(wěn)定工作。
SuperView W3三維白光干涉形貌儀讓輪廓測(cè)量?jī)r(jià)格更為實(shí)惠。分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,操作簡(jiǎn)便,可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù),適用于各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、孔隙間隙、臺(tái)階高度、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、波紋度、面形輪廓、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。
廣泛應(yīng)用于如納米材料、航空航天、半導(dǎo)體等各類精密工件表面質(zhì)量高要求的領(lǐng)域中,可以說(shuō)只有3d非接觸式光學(xué)輪廓儀才能達(dá)到微型范圍內(nèi)重點(diǎn)部位的納米級(jí)粗糙度、輪廓等參數(shù)的測(cè)量。
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