CHS452光學(xué)影像坐標(biāo)測(cè)量?jī)x支持觸發(fā)測(cè)頭和光學(xué)測(cè)頭，進(jìn)行高度、平面度測(cè)量，實(shí)現(xiàn)3D空間測(cè)量。

對(duì)于測(cè)量精度高的零件，CHS452光學(xué)影像坐標(biāo)測(cè)量?jī)x可增加探針傳感器配置，這相當(dāng)于一臺(tái)小的三座標(biāo)測(cè)量?jī)x，即為復(fù)合式影像測(cè)量?jī)x，在需要測(cè)量高度的地方，用探針取元素（點(diǎn)或面），然后在軟件內(nèi)計(jì)算高度；或運(yùn)用影像測(cè)量?jī)x軟件中的Z軸自動(dòng)對(duì)焦功能，測(cè)量得出高度；也可以通過搭載光譜共焦測(cè)頭，進(jìn)行非接觸式高度測(cè)量，平面度測(cè)量，針對(duì)鏡面和光滑斜面均可測(cè)量，比三角激光測(cè)量范圍更廣。

光學(xué)影像測(cè)量?jī)x有放大作用，可作長(zhǎng)度、角度、形狀、表面等檢驗(yàn)工作。屬非接觸式、二次元測(cè)量， 尤其適合彈性、脆性材料的測(cè)量。除可利用照相、二次元坐標(biāo)處理機(jī)、數(shù)字顯示器、光眼讀取數(shù)據(jù)或自動(dòng)尋邊器、打印機(jī)等接口設(shè)備，還有可用與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)以達(dá)迅速、確實(shí)及統(tǒng)計(jì)分析等優(yōu)點(diǎn)。CHS452影像儀被廣泛應(yīng)用于大型鈑金件、背光板、絕緣材料、面版、邊框行業(yè)、塑膠制品、五金、模具、手機(jī)外殼、電子、銘牌、陶瓷、絕緣材料等領(lǐng)域，實(shí)現(xiàn)了大批量快速檢測(cè)。

使用方法

1、影像儀掃描工件時(shí)注意避光。

2、注意測(cè)頭的運(yùn)動(dòng)方向，防止影像測(cè)量?jī)x移動(dòng)過程中測(cè)頭撞上工件。

3、掃描工件時(shí)，請(qǐng)勿觸動(dòng)，否則影響二次元影像儀掃描結(jié)果。

4、掃描工件時(shí)，被影像儀掃描面不能過于傾斜，否則測(cè)量不準(zhǔn)。

5、掃描結(jié)束后，注意關(guān)閉影像儀激光。

6、關(guān)機(jī)時(shí)，請(qǐng)先關(guān)影像儀掃描軟件，再關(guān)控制箱。

注意事項(xiàng)

1、先開影像儀控制箱電源，再啟動(dòng)掃描軟件。

2、將影像儀工作臺(tái)上的雜物清理干凈，再進(jìn)行影像儀設(shè)備歸零，防止測(cè)頭發(fā)生碰撞。

3、請(qǐng)勿將過重的物體擺放于轉(zhuǎn)臺(tái)上，以致?lián)p壞影像儀轉(zhuǎn)臺(tái)。

4、禁止將工件固定在影像儀轉(zhuǎn)臺(tái)上噴涂反差劑。

5、影像儀工作臺(tái)運(yùn)動(dòng)時(shí)盡量避免急停。