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納米精度位移激光干涉測量儀

簡要描述:SJ6000納米精度位移激光干涉測量儀采用高速干涉信號采集、調(diào)理及細分技術,可實現(xiàn)高4m/s的測量速度,以及納米級的分辨率。具有實時性測量能力,能夠同時測量多個位置或參數(shù),提高測量效率。

  • 更新時間:2024-11-12
  • 產(chǎn)品型號:SJ6000
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 訪  問  量:107

詳細介紹

品牌CHOTEST/中圖儀器價格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應用領域化工,能源,交通,汽車,綜合

中圖儀器SJ6000納米精度位移激光干涉測量儀利用激光干涉現(xiàn)象來實現(xiàn)非接觸式測量,具有高精度、高分辨率、快速測量等優(yōu)點。激光干涉儀具有實時性測量能力,能夠同時測量多個位置或參數(shù),提高測量效率。它集光、機、電、計算機等技術于一體,采用高速干涉信號采集、調(diào)理及細分技術,可實現(xiàn)高4m/s的測量速度,以及納米級的分辨率。

納米精度位移激光干涉測量儀

產(chǎn)品配置

SJ6000激光干涉儀系統(tǒng)具有豐富的模塊化組件,可根據(jù)具體測量需求而選擇不同的組件。主要鏡組如下圖所列,依次為線性鏡組、角度鏡組、直線度鏡組、垂直度鏡組、平面度鏡組、自動精密轉(zhuǎn)臺。

納米精度位移激光干涉測量儀

主要鏡組圖

其中,線性鏡組為標配,由線性干涉鏡、線性反射鏡和夾緊孔座構成??蓾M足線性位移設備的定位精度、重復定位精度、反向間隙的測量與分析,以及反向間隙修正和螺距補償。


線性測量應用

SJ6000激光干涉儀廣泛應用于機床、三坐標、機器人、3D打印設備、自動化設備、線性位移平臺、精密機械設備、精密檢測儀器等領域的線性測量。

納米精度位移激光干涉測量儀


動態(tài)測量

在SJ6000激光干涉儀動態(tài)測量軟件配合下,還可實現(xiàn)線性位移、角度和直線度的動態(tài)測量與性能檢測,以及進行位移、速度、加速度、振幅與頻率的動態(tài)分析,如振動分析、絲桿導軌的動態(tài)特性分析、驅(qū)動系統(tǒng)的響應特性分析等。

動態(tài)測量應用:

動態(tài)測量包括基于時間的動態(tài)測量和基于距離的動態(tài)測量,SJ6000動態(tài)測量軟件可對動態(tài)測量數(shù)據(jù)進行位移分析、速度分析、加速度分析、振幅與頻率分析等。

1.基于時間的動態(tài)測量

機器運動控制性能評價:

?運動控制器PID控制參數(shù)測試與設置

?高速運動后機器的穩(wěn)定性測試與評價

?高性能運動控制器的微小步幅的測試

振動監(jiān)視

?掃描應用:用于定位精度不重要,但恒速對實現(xiàn)高質(zhì)量成像非常關鍵的場合

?機床應用:典型應用包括要求刀具慢速、平穩(wěn)輪廓運動的高質(zhì)量表面精加工

振動頻率分析

?被測對象的振動頻率分析

?FFT快速傅立葉變換分析

2.基于距離的動態(tài)測量

基于距離的動態(tài)測量,SJ6000激光干涉儀系統(tǒng)將沿著軸線“飛行"測量,即運動軸在不停頓的情況下以用戶定的間隔進行數(shù)據(jù)采集。

3.提供脈沖觸發(fā)方式采集

CT70正交觸發(fā)盒可監(jiān)控光柵、編碼器、控制器等信號,配合SJ6000激光干涉儀,可實現(xiàn)脈沖觸發(fā)啟動采集和連續(xù)脈沖觸發(fā)采集。適用于運動軸在不停頓的情況下,觸發(fā)激光干涉儀按照定的間隔位置進行數(shù)據(jù)采集。


產(chǎn)品功能

(1)可實現(xiàn)線性、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度、回轉(zhuǎn)軸等幾何參量的高精密測量;

(2)可檢測數(shù)控機床、三坐標測量機等精密運動設備其導軌的線性定位精度、重復定位精度等,以及導軌的俯仰角、扭擺角、直線度、垂直度等;

(3)可實現(xiàn)對機床回轉(zhuǎn)軸的測量與校準;

(4)可根據(jù)用戶設定的補償方式自動生成誤差補償表,為設備誤差修正提供依據(jù);

(5)具有動態(tài)測量與分析功能,包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和頻率分析等,可進行振動分析、絲桿導軌的動態(tài)特性分析、驅(qū)動系統(tǒng)的響應特性分析等;

(6)支持手動或自動進行環(huán)境補償。


SJ6000納米精度位移激光干涉測量儀適用于各種復雜的運動系統(tǒng),不僅僅局限于運動導軌,還可以檢測數(shù)控機床、三坐標測量機等精密運動設備其導軌的線性定位精度、重復定位精度等,以及導軌的俯仰角、扭擺角、直線度、垂直度等。幫助企業(yè)提高設備性能,減少維護成本和停機時間,為制造業(yè)提供了一種精密的測量檢測方式。

納米精度位移激光干涉測量儀


部分技術規(guī)格

穩(wěn)頻精度0.05ppm
動態(tài)采集頻率50 kHz
預熱時間≤ 6分鐘
工作溫度范圍(0~40)℃
存儲溫度范圍(-20~70)℃
環(huán)境濕度(0~95)%RH
線性測量距離(0~80)m (無需遠距離線性附件)
線性測量精度0.5ppm (0~40)℃
角度軸向量程(0~15)m
角度測量精度±(0.02%R+0.1+0.024M)″
平面度軸向量程(0~15)m
平面度測量精度±(0.2%R+0.02M2)μm (R為顯示值,單位:μm;M為測量距離,單位:m)
直線度軸向量程短距離(0.1~4.0)m;長距離(1.0~20.0)m
直線度測量精度短距離±(0.5+0.25%R+0.15M2) μm長距離±(5.0+2.5%R+0.015M2) μm
垂直度軸向量程短距離(0.1~3.0)m;長距離(1.0~15.0)m
垂直度測量精度短距離±(2.5+0.25%R+0.8M)μm/m;長距離±(2.5+2.5%R+0.08M)μm/m
注意事項:

平面度測量配置需求:平面度鏡組+角度鏡組

平行度測量配置需求:依據(jù)軸向量程范圍,選擇相應直線度鏡組即可

短垂直度測量(0.1~3.0)m配置需求:短直線度鏡組+垂直度鏡組

長垂直度測量(1.0~20.0)m配置需求:長直線度鏡組+垂直度鏡組

直線度附件:主要應用于Z軸的直線度測量和垂直度測量

懇請注意:因市場發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要,本產(chǎn)品資料中有關內(nèi)容可能會根據(jù)實際情況隨時更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請諒解。

如有疑問或需要更多詳細信息,請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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