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中圖儀器Mars系列中小型三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是移動(dòng)橋式的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè)，也可以對(duì)軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測(cè)量。支持測(cè)頭更換架以及影像相機(jī)，同時(shí)支持精密轉(zhuǎn)臺(tái)等。

中圖儀器Mars系列三坐標(biāo)光學(xué)測(cè)量機(jī)是移動(dòng)橋式的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè)，也可以對(duì)軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測(cè)量。主要檢測(cè)形位公差，包括：幾何元素的測(cè)量：點(diǎn)、線、圓、面、球、弧、橢圓、圓柱、圓 錐、鍵 槽、曲線、曲面 幾何元素的構(gòu)造：投影、中分、相交、相切、鏡像、擬合、平移、垂直等。

MarsClassic系列國(guó)產(chǎn)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)品牌已廣泛用于機(jī)械制造業(yè)、汽車(chē)工業(yè)、電子工業(yè)、航空航天工業(yè)和國(guó)防工業(yè)等各部門(mén)，成為現(xiàn)代工業(yè)檢測(cè)和質(zhì)量控制的測(cè)量設(shè)備。涉及的部門(mén)和行業(yè)非常廣泛。在應(yīng)用范圍里面，三坐標(biāo)檢測(cè)也基本上涵蓋了機(jī)械零件及電子元器件和各種形狀公差和位置公差。利用三坐標(biāo)檢測(cè)手段能更好的判斷工件的實(shí)際要素與理想要素之間的誤差。

中圖儀器CHOTEST三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是移動(dòng)橋式的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。支持觸發(fā)、掃描和非接觸式探測(cè)系統(tǒng)。能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè)，也可以對(duì)軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測(cè)量。可用于機(jī)械制造、汽車(chē)工業(yè)、電子工業(yè)、航空航天工業(yè)以及計(jì)量檢測(cè)等領(lǐng)域，是現(xiàn)代工業(yè)檢測(cè)和質(zhì)量控制的重要檢測(cè)設(shè)備。

中圖儀器Mars系列國(guó)產(chǎn)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是移動(dòng)橋式結(jié)構(gòu)的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，廣泛應(yīng)用于機(jī)械制造業(yè)，汽車(chē)工業(yè)等現(xiàn)代工業(yè)中，能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè)，也可以對(duì)軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測(cè)量。將被測(cè)物體置于三坐標(biāo)測(cè)量空間，可獲得被測(cè)物體上各測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo)位置，根據(jù)這些點(diǎn)的空間坐標(biāo)值，經(jīng)計(jì)算求出被測(cè)物體的幾何尺寸、形狀和位置。

中圖國(guó)產(chǎn)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)采用海德漢光柵尺，確保機(jī)器在使用過(guò)程中具有高精度和長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定性。支持觸發(fā)、掃描和非接觸式探測(cè)系統(tǒng)。能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè)，也可以對(duì)軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測(cè)量。

中圖CHOTEST三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x支持觸發(fā)、掃描和非接觸式探測(cè)系統(tǒng)。能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè)，也可以對(duì)軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測(cè)量。并且支持測(cè)頭更換架以及影像相機(jī)，同時(shí)支持精密轉(zhuǎn)臺(tái)等。

Mars系列中圖三坐標(biāo)尺寸測(cè)量機(jī)支持觸發(fā)、掃描和非接觸式探測(cè)系統(tǒng)。能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè)，也可以對(duì)軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測(cè)量。主要檢測(cè)形位公差，包括：幾何元素的測(cè)量：點(diǎn)、線、圓、面、球、弧、橢圓、圓柱、圓 錐、鍵 槽、曲線、曲面 幾何元素的構(gòu)造等。