您好！歡迎訪問深圳市中圖儀器股份有限公司網站！
全國服務咨詢熱線：
18928463988
18928463988
產品分類
Product Category相關文章
Related Articles
WD4000無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。基于白光干涉圖的光譜分析儀，通過數(shù)值七點相移算法計算，達到亞納米分辨率測量表面的局部高度，實現(xiàn)膜厚測量功能。
掃一掃，關注微信
微信掃一掃